Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://lib.kart.edu.ua/handle/123456789/31049
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorТимофєєв, Сергій Сергійович-
dc.contributor.authorВолошин, Дмитро Ігорович-
dc.contributor.authorСергєєв, О.В.-
dc.date.accessioned2026-02-08T18:20:40Z-
dc.date.available2026-02-08T18:20:40Z-
dc.date.issued2025-
dc.identifier.citationТимофєєв С. С. Субмікронні мікрометри у метрологічних лабораторіях: виклики, рішення та концепція інтелектуалізації вимірювань / С. С. Тимофєєв, Д. І. Волошин, О. В. Сергєєв // Інженерія поверхні та реновація виробів: матеріали 25-ї Міжнар. наук.-техн. конф., 10-12 червня 2025 р. – Київ: АТМ України, 2025. – С. 99-102.uk_UA
dc.identifier.isbn978-617-581-674-5-
dc.identifier.urihttp://lib.kart.edu.ua/handle/123456789/31049-
dc.description.abstractЗародження концепції мікрометра як інструмента високої точності сягає кінця XVIII століття. Проте саме в XXI столітті цей прилад зазнав сутнісного перетворення – з механічного пристрою для макро- та мікровимірювань він трансформувався у цифровий вузол з субмікронною дискретністю. Така трансформація стала наслідком одразу кількох незалежних трендів: мініатюризації елементів продукції (особливо в оптиці, біомедичних технологіях, авіакосмічному секторі), переходу до цифрових виробничих систем (Індустрія 4.0) та посилення ролі метрології як основи якості.uk_UA
dc.publisherАсоціація технологів-машинобудівників Україниuk_UA
dc.titleСубмікронні мікрометри у метрологічних лабораторіях: виклики, рішення та концепція інтелектуалізації вимірюваньuk_UA
dc.typeThesisuk_UA
Розташовується у зібраннях:2025

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Тимофєєв.pdf3.06 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.