Please use this identifier to cite or link to this item:
http://lib.kart.edu.ua/handle/123456789/31049| Title: | Субмікронні мікрометри у метрологічних лабораторіях: виклики, рішення та концепція інтелектуалізації вимірювань |
| Authors: | Тимофєєв, Сергій Сергійович Волошин, Дмитро Ігорович Сергєєв, О.В. |
| Issue Date: | 2025 |
| Publisher: | Асоціація технологів-машинобудівників України |
| Citation: | Тимофєєв С. С. Субмікронні мікрометри у метрологічних лабораторіях: виклики, рішення та концепція інтелектуалізації вимірювань / С. С. Тимофєєв, Д. І. Волошин, О. В. Сергєєв // Інженерія поверхні та реновація виробів: матеріали 25-ї Міжнар. наук.-техн. конф., 10-12 червня 2025 р. – Київ: АТМ України, 2025. – С. 99-102. |
| Abstract: | Зародження концепції мікрометра як інструмента високої точності сягає кінця XVIII століття. Проте саме в XXI столітті цей прилад зазнав сутнісного перетворення – з механічного пристрою для макро- та мікровимірювань він трансформувався у цифровий вузол з субмікронною дискретністю. Така трансформація стала наслідком одразу кількох незалежних трендів: мініатюризації елементів продукції (особливо в оптиці, біомедичних технологіях, авіакосмічному секторі), переходу до цифрових виробничих систем (Індустрія 4.0) та посилення ролі метрології як основи якості. |
| URI: | http://lib.kart.edu.ua/handle/123456789/31049 |
| ISBN: | 978-617-581-674-5 |
| Appears in Collections: | 2025 |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Тимофєєв.pdf | 3.06 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.