Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://lib.kart.edu.ua/handle/123456789/10522| Назва: | Залежність кутів відбиття рентгенівського випромінювання від електроповерхневого потенціалу кристалів |
| Інші назви: | Dependence of the angular reflection of x-radiation from the surface electrical potential of crystals |
| Автори: | Борзяк, Ольга Сергіївна Borziak, O. |
| Дата публікації: | 2015 |
| Видавництво: | Українська державна академія залізничного транспорту |
| Бібліографічний опис: | Борзяк О. С. Залежність кутів відбиття рентгенівського випромінювання від електроповерхневого потенціалу кристалів / О. С. Борзяк // Збірник наукових праць Української державної академії залізничного транспорту : тези доповідей 77-ї Міжнародної науково-технічної конференції «Розвиток наукової та інноваційної діяльності на транспорті». - 2015. - Вип. 151(2). - С. 180. |
| Короткий огляд (реферат): | У будівельному матеріалознавстві для дослідження структури (будови) різних матеріалів на атомно-молекулярному рівні використовуються рентгенографчні методи аналізу, які являють собою сукупність методів дослідження, що використовують рентгенівське випромінювання. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://lib.kart.edu.ua/handle/123456789/10522 |
| ISSN: | 1994-7852 (рrint); 2413-3795 (оnline) |
| Розташовується у зібраннях: | Випуск 151. Т. 2 |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Borziak.pdf | 553.73 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.