Please use this identifier to cite or link to this item:
http://lib.kart.edu.ua/handle/123456789/23407| Title: | Залежність кутів відбиття рентгенівського випромінювання від електроповерхневого потенціалу кристалів |
| Other Titles: | Dependence of the angular reflection of x-radiation from the surface electrical potential of crystals |
| Authors: | Борзяк, Ольга Сергіївна Borziak, O. |
| Issue Date: | 2015 |
| Publisher: | Український державний університет залізничного транспорту |
| Citation: | Борзяк О. С. Залежність кутів відбиття рентгенівського випромінювання від електроповерхневого потенціалу кристалів / О. С. Борзяк // Проблеми надійності та довговічності інженерних споруд і будівель на залізничному транспорті: тези доповідей 5-ї міжнар. наук.-техн. конф. з будівельних матеріалів, конструкцій та споруд (23-24 квітня). - Харків: УкрДУЗТ, 2015. - С. 34. |
| Abstract: | У будівельному матеріалознавстві для дослідження структури (будови) різних матеріалів на атомно-молекулярному рівні використовуються рентгенографчні методи аналізу, які являють собою сукупність методів дослідження, що використовують рентгенівське випромінювання. Найбільш поширеним є рентгеноструктурний аналіз, сутність якого полягає у визначенні на отриманих рентгенограмах (приладових записах) міжплощинних відстаней в кристалічних решітках досліджуваних сполук для подальшої ідентифікації їх за таблицями. Сучасні уявлення про фізичну сутність електричного заряду і абсолютного електроповерхневого потенціалу (ЕПП) дозволять збільшити інформативність рентгенографічних досліджень і підняти її на новий якісний рівень. |
| URI: | http://lib.kart.edu.ua/handle/123456789/23407 |
| Appears in Collections: | Проблеми надійності та довговічності інженерних споруд і будівель на залізничному транспорті |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Борзяк.pdf | 255.1 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.