Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://lib.kart.edu.ua/handle/123456789/23407
Назва: Залежність кутів відбиття рентгенівського випромінювання від електроповерхневого потенціалу кристалів
Інші назви: Dependence of the angular reflection of x-radiation from the surface electrical potential of crystals
Автори: Борзяк, Ольга Сергіївна
Borziak, O.
Дата публікації: 2015
Видавництво: Український державний університет залізничного транспорту
Бібліографічний опис: Борзяк О. С. Залежність кутів відбиття рентгенівського випромінювання від електроповерхневого потенціалу кристалів / О. С. Борзяк // Проблеми надійності та довговічності інженерних споруд і будівель на залізничному транспорті: тези доповідей 5-ї міжнар. наук.-техн. конф. з будівельних матеріалів, конструкцій та споруд (23-24 квітня). - Харків: УкрДУЗТ, 2015. - С. 34.
Короткий огляд (реферат): У будівельному матеріалознавстві для дослідження структури (будови) різних матеріалів на атомно-молекулярному рівні використовуються рентгенографчні методи аналізу, які являють собою сукупність методів дослідження, що використовують рентгенівське випромінювання. Найбільш поширеним є рентгеноструктурний аналіз, сутність якого полягає у визначенні на отриманих рентгенограмах (приладових записах) міжплощинних відстаней в кристалічних решітках досліджуваних сполук для подальшої ідентифікації їх за таблицями. Сучасні уявлення про фізичну сутність електричного заряду і абсолютного електроповерхневого потенціалу (ЕПП) дозволять збільшити інформативність рентгенографічних досліджень і підняти її на новий якісний рівень.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://lib.kart.edu.ua/handle/123456789/23407
Розташовується у зібраннях:Проблеми надійності та довговічності інженерних споруд і будівель на залізничному транспорті

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Борзяк.pdf255.1 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.