Метод оптимальной комплектации модулятора оптического модуля бесконтактного рельсового дефектоскопа

Abstract

RU: Предлагается метод и алгоритм расчета оптимальной комплектации конструктивно-функциональных узлов (КФУ) детектора оптического излучения, который является неотъемлемой частью сложного эффективного устройства (на этапе сборки) – бесконтактного детектора контроля состояния железнодорожных рельс. Путем рационального использования комплектующих элементов достигается повышение точности выходного параметра. Рассматриваются примеры случайной и оптимальнойкомплектациимодулятораоптическогоизлучениявцелях снижения процесса испытания и отладки. UA: У статті наведено опис безконтактного рейкового дефектоскопа з використанням модульованого оптичного випромінювання. Описано алгоритм оптимальної комплектації модулятора оптичного випромінювання на основі ефекту Керра, тобто підбору анізотропного кристалу з відповідними фізичними властивостями. Показана ефективність зазначеного алгоритму, що знижує людські і апаратні пристрої для налагоджування дефектоскопа. EN: The article describes a noncontact rail flaw detector with the modulated optical radiation. Specified is the algorithm of the optimum configuration for the optical radiation modulator based on the Kerr effect, that is, the proper selection of an anisotropic crystal with appropriate physical properties. The article shows the efficiency of the above-mentioned algorithm, which reduces human and hardware resources for adjusting the rail flaw detector. The scientific newness consists in a simplified selection of elements (anisotropic crystals) with the different quality of the surface treatment, which leads to different values of the refractive index, and in turn changes the modulation quality parameters of the optical radiation affecting the operation of a more complex device - flaw detector. The proposed method can be implemented using software and experimental methods. The first method is promising in terms of productivity, however, it requires a high-precision mathematical model for the functional device and the absolute input control of the elements. The second method requires special test equipment where the elements will be mounted during an experiment. After that, the elements will be retrieved from the measuring bench and transferred for the final assembly on the optical module of a flaw detector in our case.